優(yōu)爾鴻信檢測(cè)（原富士康華南檢測(cè)中心）在深圳、昆山、煙臺(tái)、武漢、鄭州、程度、南寧等多地設(shè)有實(shí)驗(yàn)室，服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍及全國(guó)的大型旗艦實(shí)驗(yàn)室。于2003年取得中國(guó)國(guó)家合格評(píng)定委員會(huì)(CNAS) 的初次認(rèn)可，

工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（Computed Tomography，簡(jiǎn)稱CT）是一種非破壞性檢測(cè)技術(shù)，它能夠提供對(duì)物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維圖像。在工業(yè)領(lǐng)域，CT測(cè)試被廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、缺陷檢測(cè)、逆向工程和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)等

主要功能： 金屬/塑料等制件內(nèi)部孔隙
                  電子件焊接失效分析
                  失效模式/機(jī)制分析
                  組合件裝配觀察等

工業(yè)CT檢測(cè)原理

樣品放置于射線管及探測(cè)之間，并旋轉(zhuǎn)360°，每旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度便采集一張二維圖像。每張圖像數(shù)據(jù)包含樣品的材料衰減分布信息，經(jīng)過(guò)計(jì)算獲得每個(gè)體素，再進(jìn)行排列從而重建出三維模型。

射線檢測(cè)原理-射線衰減

1.不同材料：材料的原子序數(shù)不同，射線穿過(guò)的衰減程度不同。

2.不同密度：同材料內(nèi)部的密度有差異，射線穿過(guò)后的衰減程度不同。

3.不同厚度：同材料內(nèi)部的厚度有差異，射線穿過(guò)后的衰減程度不同。