電子電工產(chǎn)品在運輸、儲存和使用過程中會經(jīng)受到砂塵的影響。砂塵不會自行消除,往往是粘附在設(shè)備上,并不斷地積累,它可以吸收塵分形成腐蝕性電解質(zhì),而且能助長微生物活動,這種效應(yīng)將長期作用在產(chǎn)品上。砂塵能影響產(chǎn)品的性能、使用、可靠性和維修性。
砂塵主要危害:
能使電子電工產(chǎn)品的表面腐蝕與損壞;
能使通道口和過濾器阻塞;
能進入裂紋、孔隙、軸承、結(jié)合處和密封處,從而造成各種有害影響;
能使活動部件、配合部件粘接和阻塞;
能使接觸器和繼電器不工作、形成導(dǎo)電橋以及產(chǎn)生短路,從而影響產(chǎn)品的功能和性能
砂塵試驗的目的是考核電子電工產(chǎn)品防止砂塵進入的能力以及在沙塵環(huán)境下工作的能力。 為了模擬砂塵對產(chǎn)品的影響,目前常用的有兩種方法,一種是吹塵法, 一種是吹砂法。試驗時可根據(jù)產(chǎn)品的功能、使用狀態(tài)和環(huán)境來確定,但一般都是采用吹塵法
優(yōu)爾鴻信檢測可靠度實驗室砂塵測試參數(shù):
Ø 箱體容量: 1m³
Ø 粉塵類型:滑石粉
Ø 粒子直徑:<75μm
Ø 粉塵濃度:2kg/m³
Ø IP6X樣品抽壓:20Kpa
Ø 測試時間: 8H
常用測試標(biāo)準(zhǔn):IEC 60529
防塵等級:
代碼 |
等級防護要求 |
0 |
無 |
IP1X |
直徑50mm,不附手柄或擋板之鋼球不得進入,且保持有適當(dāng)空間距離。 |
IP2X |
直徑12.5mm,不附手柄或擋板之鋼球不得進入,且保持有適當(dāng)空間距離。 |
IP3X |
直徑2.5mm之測試桿不得進入,且保持有適當(dāng)空間距離。 |
IP4X |
直徑1.0mm之測試線不得進入,且保持有適當(dāng)空間距離。 |
IP5X |
將測試樣品放入粉塵室,試驗應(yīng)持續(xù)施行8小時。 |
IP6X |
在2kPa(20mbar)之減壓下,將其置入粉塵室測試8小時。 |