安捷倫/惠普4291BRF阻抗/材料分析儀，
四元件測試夾具（被測件尺寸：0.5毫米至20毫米）
在2個通道的獨立參數(shù)的選擇
直接讀出介電常數(shù)，透氣性好（選項）
兩種材料夾具（工作溫度：-55C至200的C）
多功能分析（溫度，科爾，科爾圖，弛豫時間）
掃描參數(shù)（頻率，AC電平，直流偏置，溫度）
安捷倫/惠普4291B
產(chǎn)品信息
數(shù)據(jù)1.1 MB
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安捷倫4291B射頻阻抗/材料分析儀提供了一個高***度和容易測量的表面貼裝元件和介電/磁性材料的整體解決方案。安捷倫4291B使用直接的電流 - 電壓測量技術，反對反射測量技術，為更廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供***的阻抗測量。
基本阻抗精度為+ / - 0.8％。高Q精度使低損耗的成分分析。內(nèi)部合成器，掃描頻率從1 MHz到1.8 GHz 1 mHz的分辨率。一個1.8米的錯誤更少的電纜連接分析儀測試站，這樣可以延長您的測試點距離分析儀，而不會失去準確性。先進的校準和誤差補償功能，消除固定裝置的測量誤差因素，并保證在DUT / MUT很高的精度和可重復性。
安捷倫4291B還提供了自動電平控制，使用IBASIC編程功能和測試信號的監(jiān)控，可以根據(jù)一個恒定的電壓或電流測量設備。測量偏壓依賴可選直流偏置（高達40 V和100毫安）的阻抗特性。在按下一個按鈕，內(nèi)置等效電路分析功能自動計算出5個電路模型的電路常數(shù)值。
安捷倫4291B有兩個測量通道，每個通道都可以設置為衡量一個單一的（如Z）或雙（如Z -θ）阻抗參數(shù)。分割顯示彩色TFT顯示活動的痕跡和記憶痕跡（存儲在RAM中）。一個內(nèi)置的軟盤驅動器的存儲程序和LIF或MS - DOS格式的測試數(shù)據(jù)。隨著內(nèi)置IBASIC，您可以控制外部測試設備，如溫度室或直接從安捷倫4291B晶圓探針。你不需要一個單獨的儀器控制器。
材料評估
惠普/安捷倫4291B可以方便和先進的材料評估和提高材料評估的質(zhì)量和效率。安捷倫4291B提供了在寬的頻率范圍內(nèi)的總電介質(zhì)/磁材料測量解決方案（1 MHz至1 GHz）。
