針對(duì)LPDDR5/DDR5提供了高速多通道的誤碼測(cè)試儀（BERT）, 適合用在DDR5 DRAM/RCD/DB等物理層接收機(jī)信號(hào)質(zhì)量完整性測(cè)試及針對(duì)DDR5協(xié)議層之功能性驗(yàn)證. 目前該產(chǎn)品有廣泛的應(yīng)用在各大DDR5相關(guān)的廠(chǎng)商中，完整的支持DDR5 DRAM Test Suite，DDR5 R-DIMM Test Suite， DDR5 RCD Test Suite，DDR5 DB Test Suite，LPDDR5 DRAM Test Suite等等。代表客戶(hù)包括： Intel, AMD, IDT, Rambus, Montage, Micron，Hynix等等。

­LPDDR5/DDR5提供了高速多通道Tx/Rx誤碼測(cè)試儀（BERT）

Introspect新世代DDR5測(cè)試儀

主要功能:

完整的命令編碼和譯碼功能,工程師無(wú)需了解所需的命令真值表,已完整內(nèi)建在測(cè)試儀內(nèi)

具備DDR5協(xié)議功能之產(chǎn)生器已支持DDR5之命令接口

具備DDR5協(xié)議功能之分析儀可解析DDR5 CA/CK or DQ/DQS之所有協(xié)議命令

仿真主機(jī)控制器(Host controller)以針對(duì)DRAM或是RCD之功能測(cè)試

接收端測(cè)試:

具備可注入干擾及抖動(dòng)之碼型產(chǎn)生器

具備Rx strobe抖動(dòng)靈敏度測(cè)試

誤碼量測(cè)功能

發(fā)送端測(cè)試:

DQ 和 DQS抖動(dòng)量測(cè)

眼圖量測(cè)