此系列試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及對各種材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在高溫濕熱環(huán)境下檢驗其各性能項指標(biāo)。