在測量當(dāng)前復(fù)雜電路中的高頻信號時，有源探頭提供了杰出的通用性和精度。這些探頭可以在更寬的頻率范圍內(nèi)保持更高的輸入阻抗，通過在更寬的帶通中保持更高的探頭輸入阻抗，將降低地線環(huán)路效應(yīng)，使這些探頭可以在未知阻抗測試點(diǎn)上執(zhí)行測量。低輸入電容和高輸入電阻相結(jié)合，可以采集至快的上升時間及執(zhí)行的振幅測量，較傳統(tǒng)無源探頭提供更小的負(fù)荷。在測量存在DC電壓的AC信號時，DC偏移功能則可以利用探頭的全部動態(tài)范圍。
特點(diǎn)與優(yōu)點(diǎn)
4GHz 帶寬 <120 ps 上升時間 小型探頭端頭 全套SMD 連接附件 可與節(jié)距小至.010” (0.254mm) 的SMD 器件直接連接
支持的示波器
具有TEKPROBE2 接口的TDS 示波器
探頭接口
TEKPROBE2 BNC 接口
應(yīng)用
高速數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計 部件設(shè)計/鑒定 制造工程與測試 可用于測量3.0V邏輯電路、Rambus數(shù) 據(jù)線、千兆比特以太網(wǎng)
