一、儀器名稱：臺式X熒光鍍層測厚儀X-Strata920
二、儀器型號：X920
三、生產(chǎn)廠家：日立分析儀器
四、產(chǎn)地：德國 山東總代：青島浩正科儀智能技術(shù)有限公司
五、儀器簡單介紹 X-Strata920XRF ，鍍層測厚儀，最gao精確度，最少浪費 若不足一微米在您的鍍層測量業(yè)務成敗中舉足輕重，則請選擇X-Strata920。 您可選擇比例計數(shù)器或硅漂移探測器（SDD），確保擁有正確配置。 如果您從事電子或金屬表面處理，我們可提供適合您業(yè)務的解決方案。X-Strata920提供多種配置，可分析單層和多層鍍層（包括合金層）。 我們的內(nèi)部應用專家對X-Strata920進行了優(yōu)化，確保您獲得可靠、可重復結(jié)果以滿足百種應用，包括：PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕性處理、裝飾表面處理、耐磨損處理和耐高溫處理等。 山東總代：青島浩正科儀智能技術(shù)有限公司
六、 儀器選型
半自動固定樣品臺： Z軸自動控制，移動行程：43mm (1.7")，XY軸手動控制 樣品臺高度固定，測量最da樣品高度33mm 儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×305mm（不含電腦和顯示器） 半自動加深樣品臺 Z軸自動控制，移動行程：43mm (1.7")，XY軸手動控制 樣品倉抽屜式設計，4個位置上下可調(diào)，每格高度25.4mm 最da樣品高度160mm 樣品倉內(nèi)部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm 儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×400mm(不含電腦和顯示器) 自定義樣品臺：依據(jù)客戶要求提供更高的樣品臺，滿足高度大于160mm的樣品測量，倉內(nèi)抽屜式設計，多個位置上下可調(diào)，每格高度25.4mm 全自動樣品臺 Z軸自動控制，移動行程：43mm (1.7")，XY軸自動控制 可提供對樣品的自動和編程控制，多點測量 鼠標控制樣品臺移動，精確地定位樣品測量點 測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式 樣品臺移動行程：178×178mm 樣品臺尺寸：寬610×深560mm 最da樣品高度33mm 儀器外形尺寸：寬610×深1037×高375mm(不含電腦和顯示器) 多種型號規(guī)格的準直器 圓形0.2mm(8mil) 矩形0.05*0.05mm(2*2mil) 矩形0.05*0.25mm(2*10mil) 單準直器組件； 多準直器自動控制組件： 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器； 圓形、矩形多種規(guī)格尺寸任選（紅色常用） 圓形
七、儀器特點
測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92； 測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線； 測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結(jié)果精確至μin； 快速無損測量，測量時間短，10秒內(nèi)得出測量結(jié)果； 可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析； 進行貴金屬檢測，如Au karat評價； 材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析； 強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、最da值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖； 結(jié)果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件； 報告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計圖表、客戶信息等； 測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標準光學放大倍數(shù)為30倍； 激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦； 擁有NIST認證的標準片； 提供全球服務及技術(shù)支持。
X920三步即可獲得測量結(jié)果
1 將產(chǎn)品放置在樣品臺上 無損分析，無需樣品制備 開槽式樣品倉便于放置產(chǎn)品 超大樣品臺便于大面積產(chǎn)品（如：PCB）測量 配備了門開閉傳感器，增強了安全性
2 一鍵完成視頻聚焦 一鍵自動鐳射聚焦，避免人為操作誤差 標配固定焦距12.7mm，選配變焦 高分辨率、高放大倍率的彩色數(shù)碼影像裝置，畫面清晰、測試點精準定位；放大倍數(shù)：30倍（標配），50倍（選配） 自動臺：利用可編程XY樣品臺和Z軸實現(xiàn)單次或多次分析操作 簡單快速的多點分析
3 一鍵完成測量 幾秒內(nèi)顯示結(jié)果 保存、打印或傳輸結(jié)果 測試結(jié)果可一鍵導出PDF（標配）、Excel（選配） 使用預置和客戶自定義的報告模板 山東總代：青島浩正科儀智能技術(shù)有限公司
