美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY4200-SC參數(shù)分析儀

發(fā)布時(shí)間：2019-10-10 16:52:06,加入時(shí)間:2019年06月01日(距今2304天)
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美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY參數(shù)分析儀4200-SCS研究應(yīng)用領(lǐng)域：半導(dǎo)體材料和器件的研發(fā)—傳統(tǒng)的半導(dǎo)體和微電子專業(yè) 器件和工藝的參數(shù)監(jiān)控—半導(dǎo)體工藝線，生產(chǎn) 器件的建模（Modeling)—半導(dǎo)體器件的設(shè)計(jì)，集成電路的設(shè)計(jì) 可靠性和壽命測(cè)試—半導(dǎo)體器件可靠性研究高功率MOSFET，BJT和III-V族器件（GaN，GaAs)的特性分析納米器件研究；光電子器件的研究（LED，OLED等）；非易揮發(fā)性存儲(chǔ)器測(cè)試—Flash閃存，相變存儲(chǔ)器（PRAM），鐵電存儲(chǔ)器（FeRAM)，阻變存儲(chǔ)器（RRAM)等；

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