Sphere-3000反射率測試儀

Sphere3000是一套波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

技術參數(shù)

型號

Sphere-3000（I型）

Sphere-3000（III型）

檢測范圍

380~800nm

360~1100nm

波長分辨率

1nm

1nm

相對檢測誤差

﹤1%

﹤0.5%

測定方法

與標準物比較測定

被測物再現(xiàn)性

±0.1%以下(2σ)   （380nm~410nm）

±0.05%以下(2σ) ， (410nm~800nm)

±0.1%以下(2σ)，(380nm~410nm) ；±0.05%以下(2σ) ，(410nm~1100nm)

單次測量時間

﹤1s

精度

0.3nm

被測物N.A.

0.12(使用10×對物鏡時) 、 0.24(使用20×對物鏡時)                                                                                  

被測物尺寸

直徑>1mm

厚度>1mm(使用10×對物鏡時)

厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)

被測物

測定范圍

約φ60μm(使用10×對物鏡時) ； 約φ30μm(使用20×對物鏡時)

設備重量

約15kg（光源內(nèi)置）

設備尺寸

300(W)×550(D)×570(H)mm

使用環(huán)境

水平且無振動的場所

溫度：23±5℃；

濕度：60％以下、無結(jié)露；

操作系統(tǒng)

Windows XP, Windows Vista，Win7

軟件

分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜（有干涉條紋）折射率測定

尺寸

480*400*580mm

Sphere3000反射率測試儀-特點：

顯微測定微小領域的反射率  物鏡對焦于被測物微小區(qū)域（φ60μm）

CIE顏色測定  X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等

檢測速度快  高性能探測器，能在幾秒內(nèi)實現(xiàn)重現(xiàn)性高的測定

背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率