3秒完成全項(xiàng)檢測(cè)！東莞路登科技SD卡測(cè)試治具開(kāi)啟量產(chǎn)質(zhì)檢新時(shí)代

面對(duì)TF/SD/microSD等多規(guī)格存儲(chǔ)卡的兼容性測(cè)試難題， 東莞路登科技推出 第五代全自動(dòng)測(cè)試治具：
1、 一機(jī)通測(cè)：可替換式卡槽模組，適配從SDXC 4.0到UHS-II所有協(xié)議，切換時(shí)間＜10秒；
2、 極速驗(yàn)證：集成USB3.2+PCIe雙接口，讀寫(xiě)/壞塊/耐久測(cè)試同步進(jìn)行，單卡完整檢測(cè)僅需3秒；
3、 工裝品質(zhì)：合金鋁材機(jī)身配合陶瓷觸點(diǎn)，插拔壽命超50萬(wàn)次，通過(guò)-40℃~85℃極端環(huán)境認(rèn)證。

已助力多家企業(yè)將不良品漏檢率降至0.005%，并支持定制化測(cè)試腳本開(kāi)發(fā)。