系統(tǒng)概述
交流阻斷（或反偏）耐久性試驗是在一定溫度下，對半導(dǎo)體器件施加阻斷（或反偏）電壓，按照規(guī)定的時間，從而對器件進行質(zhì)量檢驗和耐久性評估的一種主要試驗方法。
一般情況下，此項試驗是對器件在結(jié)溫（Tjm ℃）和規(guī)定的 交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應(yīng)力組合下，進行規(guī)定時間的 試驗，并根據(jù)抽樣理論和失效判定依據(jù)，確認是否通過， 同時獲取相關(guān)試驗數(shù)據(jù)。
該系統(tǒng)符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC標準試驗要求。可供半導(dǎo)體器件配以適當(dāng)?shù)臏囟瓤煽匮b置， 作交流阻斷（或反偏）耐久性/ 篩選試驗。能滿足IGBT進行高溫反偏耐久性試驗、高溫漏電流測試（HTIR）和老煉篩選。
