低價(jià)出手HP4339B高阻表 安捷倫4339B回收

Agilent 4339B高電阻測(cè)試儀規(guī)格

測(cè)量參數(shù)：R（直流電阻），I（直流電流），ps（表面電阻率），pv（體電阻率）
數(shù)學(xué)功能：偏差和百分偏差
顯示數(shù)字：3，4或5位（可選擇）
測(cè)試電壓：0.1～1000Vdc
0.1～200Vdc時(shí)，以0.1V步進(jìn)
0.1～1000Vdc時(shí)，以1V步進(jìn)
電壓精度：≤200V時(shí)為0.16％+100mV
＞200V時(shí)為0.16％+500mV
大電流：≤100V時(shí)為10mA；≤250V時(shí)為5mA
≤500V時(shí)為2mA；≤1000V時(shí)為1mA
電流相容性調(diào)定：0.5mA,1mA,2mA,5mA,10mA
輸出電阻：1KΩ±10％
輸入電阻：1KΩ±10％
測(cè)試電纜長(zhǎng)度：2 m�。ù笾担�
測(cè)量范圍和精度：
直流電流：60fA～100uA基本精度：±0.4％
直流電阻：1×103～1.6×1016Ω　基本精度：±0.6％
測(cè)量時(shí)間：短：10ms；中：30ms；長(zhǎng)：390ms
修正功能：
開(kāi)路誤差為0：消除由測(cè)試夾具中雜散寄生電阻引起的測(cè)量誤差
測(cè)試序列程序：控制一系列電阻測(cè)量。充電時(shí)間、測(cè)量間隔時(shí)間和測(cè)量次數(shù)可以編程。
比較功能：對(duì)測(cè)量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限
接觸檢查功能：
1、可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障
2、可提供的被測(cè)器件（DUT）類型