美國博曼出品C30-P1探頭，用于配置博曼BM-C30銅箔厚度測試儀，測量PCB表面銅箔的厚度創(chuàng)新的設計，確保探頭可以垂直測量，獲得更高的準確性和重復性。

C30-P1探頭的特點：

快速，準確，非破壞性檢測銅箔厚度，透明保護罩，確保探頭可以垂直測量，可更換式T1探針，用戶簡易更換，降低使用成本，柔軟，高強抗拉導線，堅實耐用，彈性伸縮接觸式探針避免銅箔劃傷，將銅針放到銅箔表面開始測量。